A.都是用陶瓷坩堝
B.都是用石墨坩堝
C.都由加熱氣體凈化檢測(cè)單元組成
D.都采用紅外檢測(cè)技術(shù)
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A.3:1
B.4:1
C.6:1
D.8:1
A.190~900nm
B.190~941nm
C.190~962nm
D.190~973nm
A.釋放劑
B.還原劑
C.氧化劑
D.助溶劑
A.XRF
B.AFS
C.AAS
D.ICPAES
A.直接倒入水槽中排走
B.分類排放
C.先中和、還原后再排走
D.繼續(xù)使用,不處理
最新試題
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量,氧氣源發(fā)生改變時(shí),應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。
儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類,并按照年月日依次保存,不能重復(fù)命名,便于上傳時(shí)和以后查找。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用,儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損,因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
原子熒光儀更換空心陰極燈時(shí)應(yīng)先將主、輔電流調(diào)到零處,然后關(guān)閉主機(jī)電源才能換燈。