單項選擇題以下對渦流陣列技術說法錯誤的是：（）。
A.渦流陣列技術掃查覆蓋區(qū)域大
B.陣列探頭是由多個獨立工作的線圈構成，這些線圈按照特殊的方式排布
C.陣列探頭造價便宜
D.陣列探頭易于克服提離效應影響
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1.單項選擇題一般情況下，遠場渦流激勵線圈與檢測線圈間距為被檢管內徑的：（）。
A.1-2倍
B.2-3倍
C.3-4倍
D.4-5倍
2.單項選擇題與常規(guī)渦流檢測相比，下列哪項不是遠場渦流的優(yōu)點：（）。
A.不受趨膚深度條件的限制
B.壁厚與相位滯后存在線性關系
C.適于短小的和非管狀的試件
D.對被檢管材的內外壁缺陷具有相近的靈敏度
3.單項選擇題30CrMnSi 鋼管表面的鍍鉻層厚度可采用什么方法進行測量（）？
A.測電導率
B.電磁測厚
C.測電阻率
D.材質分選
4.單項選擇題采用自比差動線圈對管材進行渦流檢測時，以下哪種情況可能出現漏檢（）？
A.裂紋
B.外壁凹陷
C.腐蝕坑
D.直徑的逐漸變化
5.單項選擇題下列哪項不是影響放置式線圈阻抗的因素：（）。
A.提離效應
B.頻率
C.工件厚度
D.填充系數
最新試題
無損檢驗的優(yōu)點之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質量。
題型：判斷題
C 型顯示是工件的平面投影圖，所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。
題型：判斷題
關于磁粉檢驗的局限性的敘述，不正確的是（）。
題型：單項選擇題
下面視頻內窺鏡測量技術，哪種不是陰影測量法：（）。
題型：單項選擇題
下列屬于在役蒸汽發(fā)生器二次側外部目視檢驗的是：（）。
題型：單項選擇題
照度計是用來測量工作場所光照度的基本儀器，不可以用來測量：（）。
題型：單項選擇題
焊縫磁粉檢驗時，磁痕特征為：磁粉沉積為點狀（橢圓狀）或粗短線條狀，磁粉堆積不緊密，較平直；條狀兩端不尖細，但有一定面積。這可能是：（）。
題型：單項選擇題
鍛件磁粉檢驗時，磁痕顯示不濃密，但對其表面打磨后磁痕更加清晰，可能是以下哪種缺陷造成的（）？
題型：單項選擇題
鑄造管中表現特征為半球形，橢球形或蝌蚪形等空腔的缺陷稱為：（）。
題型：單項選擇題
標準QJ2859-1996《工業(yè)內窺鏡操作使用方法與判定規(guī)則》中規(guī)定，進行內窺鏡檢測的產品溫度應在：（）。
題型：單項選擇題