A.K值增大時，近場區(qū)長度不變
B.K值增大時，近場區(qū)長度增大
C.K值增大時，近場區(qū)長度減小
D.K值與近場區(qū)長度無關(guān)
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A.在工件中得到純橫波
B.得到良好的聲束指向性
C.實現(xiàn)聲束聚焦
D.實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換
A.小于實際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實際尺寸
D.等于晶片尺寸
A.K值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B.K值隨電壓的變化而變化
C.K值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對
A.探頭磨損會使入射點發(fā)生變化
B.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大
C.探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的減小
A.前后、左右
B.轉(zhuǎn)角
C.環(huán)繞
D.以上都是
最新試題
顯微鏡鍍層測厚法缺點是（）
光譜分析（）材料時，分析面不宜用砂輪機或砂紙打磨處理。
技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備，做好（）的宣傳與推廣工作。
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技術(shù)監(jiān)督辦公室針對技術(shù)監(jiān)督工作過程中發(fā)現(xiàn)的具有（）的問題及時發(fā)布技術(shù)監(jiān)督工作預(yù)警單。
用X射線熒光光譜儀對變電站密閉箱體和隔離開關(guān)軸銷304不銹鋼光譜分析時，判斷材質(zhì)是否符合要求應(yīng)重點關(guān)注（）元素。