1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。