判斷題按美國材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)(ASTME2446-05)和歐洲標(biāo)準(zhǔn)(EN14784-1:2005)的規(guī)定,CR系統(tǒng)由IP板(成像板)、掃描器(圖像讀出器)和軟件(圖像讀出軟件)組成。

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1.多項(xiàng)選擇題JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(報(bào)批稿)規(guī)定:各級別的鋁及鋁合金熔化焊對接接頭允許的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)大于鋼熔化焊對接接頭,主要是考慮()

A.鋁及鋁合金承壓設(shè)備焊接接頭系數(shù)取值較低,存在較多圓形缺陷不影響安全
B.鋁及鋁合金韌性較好,存在圓形缺陷不會(huì)衍生出裂紋
C.鋁及鋁合金現(xiàn)有的焊接技術(shù)和工藝不能保證低的氣孔缺陷發(fā)生率
D.鋁及鋁合金焊接接頭多次返修會(huì)影響其耐腐蝕性

2.多項(xiàng)選擇題在JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(報(bào)批稿)的下列規(guī)定中,與標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)等級有關(guān)的規(guī)定是()

A.膠片類型的選用規(guī)定
B.允許采用的透照厚度比的規(guī)定
C.X射線允許使用的最高透照管電壓的規(guī)定
D.底片黑度與像質(zhì)計(jì)靈敏度的規(guī)定

3.多項(xiàng)選擇題在JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(報(bào)批稿)中有關(guān)使用諾模圖確定射線源至工件表面距離f的敘述,正確的是()

A.采用B級射線檢測技術(shù)所要求的最小f值比A級大一倍
B.諾模圖中的有效焦點(diǎn)尺寸,當(dāng)焦點(diǎn)形狀為橢圓形時(shí)應(yīng)取長徑
C.在黑度和靈敏度滿足要求的前提下,采用源在內(nèi)單壁透照方式,f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%
D.在黑度和靈敏度滿足要求的前提下,采用源在內(nèi)中心透照方式f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%

4.多項(xiàng)選擇題下列關(guān)于增感屏的敘述中,符合JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(報(bào)批稿)有關(guān)規(guī)定的是()

A.對X射線照相檢驗(yàn),當(dāng)透照電壓低于100kV時(shí),不允許使用增感屏
B.對Se-75源,AB級一般采用厚度為0.1~0.2mm的鉛屏
C.對Ir-192源,選擇增感屏厚度時(shí)應(yīng)考慮所采用的技術(shù)等級
D.對能量高于12MeV的X射線,應(yīng)不使用后增感屏

最新試題

斜探頭探測焊縫時(shí),在室內(nèi)溫度為18℃時(shí),測定探頭K 值和調(diào)節(jié)掃描線比例,實(shí)際探測工件時(shí)的環(huán)境溫度為35℃,則檢測顯示的回波深度值為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

雙晶直探頭的探測區(qū)為表面下的菱形區(qū),菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。

題型:判斷題

當(dāng)從母材側(cè)探測復(fù)合鋼時(shí),熒光屏上只有始波和另一個(gè)回波,該回波的聲程與母材厚度相當(dāng),則說明該復(fù)合材料無脫接。

題型:判斷題

用水浸法縱波檢測80mm 厚鋼試件,水層厚度應(yīng)為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,關(guān)于掃查靈敏度的敘述正確的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

對奧氏體不銹鋼焊縫探傷,常用單晶縱波斜探頭探測深度較大的缺陷,用雙晶縱波斜探頭探測深度較淺的缺陷。

題型:判斷題

聲壓的幅值與介質(zhì)的密度、波速和頻率的乘積成正比。

題型:判斷題

對奧氏體不銹鋼對接焊縫根部未熔合采用K1斜探頭檢測最合適。

題型:判斷題

利用聲透鏡制作的聚焦探頭,要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。

題型:判斷題

直探頭探測鋼工件時(shí),當(dāng)工件中聲程等于二分之一近場長度時(shí),由于聲束軸線聲壓為零,此處的缺陷將探測不到。

題型:判斷題