填空題如果以Little-endian方式存儲,在WinHex中讀取表現(xiàn)為56AB78EF,該值應(yīng)為()。

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4.多項選擇題關(guān)于磁頭與盤片的距離,下列表述正確的是()。

A.磁頭在不工作時,是不會懸浮在盤片表面的
B.某個現(xiàn)代機(jī)械硬盤,工作時磁頭與盤片的距離為頭發(fā)直徑的千分之一
C.某個現(xiàn)代機(jī)械硬盤,工作時磁頭與盤片的距離為10~30微米
D.某個現(xiàn)代機(jī)械硬盤不工作時,磁頭與盤片的距離略高

5.多項選擇題關(guān)于缺陷表的說法,正確的是()。

A.相同型號的硬盤,缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比,前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List,相對連續(xù)讀寫而言,P-List缺陷對性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過工廠嚴(yán)格測試的硬盤,也可能有缺陷扇區(qū)