A.超聲檢測儀通過產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上，激勵探頭晶片振動發(fā)射超聲波
B.超聲檢測儀可將探頭送回的電信號進(jìn)行放大，通過一定形式顯示出來
C.超聲檢測儀可以得到被探測工件表面及內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測儀是超聲檢測的主體設(shè)備
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A.用來描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實(shí)用AVG曲線可以理論計(jì)算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實(shí)用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實(shí)用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率
A.表示回波聲程、幅度（dB）和缺陷大小之間關(guān)系的曲線
B.用于缺陷定量和靈敏度調(diào)整
C.聲程以探頭的近場區(qū)為單位，缺陷以探頭的直徑為單位，幅值以始波高度為參考值
D.適用于全部聲程
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.18dB
A.增大12dB
B.增大9dB
C.增大6dB
D.增大3dB
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB
最新試題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。