A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
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A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開發(fā)過程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
A.黑盒測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.易用性測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
A.系統(tǒng)測(cè)試
B.安全性測(cè)試
C.探索測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.X模型
B.W模型
C.V模型
D.瀑布模型
最新試題
在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問題。說的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
增量模型適合適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目。
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
等價(jià)類劃分法使用步驟描述錯(cuò)誤的是（）