當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。