A.軔致輻射計(jì)數(shù)集中在低能區(qū)
B.軔致輻射的來源其實(shí)是β射線
C.軔致輻射可以被理想屏蔽所去除
D.當(dāng)β射線強(qiáng)度大,能量高,而γ射線強(qiáng)度低時(shí),軔致輻射影響更顯著
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A.超出了最大能量,是系統(tǒng)弄錯(cuò)了,應(yīng)該把這些計(jì)數(shù)去掉
B.可能同時(shí)發(fā)生了兩個(gè)能量完全沉積的事件,系統(tǒng)把這兩個(gè)10keV的計(jì)數(shù)合成為了一個(gè)20keV的計(jì)數(shù)
C.這個(gè)峰大部分計(jì)數(shù)的來源應(yīng)該是環(huán)境的射線影響
D.降低γ射線強(qiáng)度,這個(gè)峰的計(jì)數(shù)應(yīng)該會(huì)升高
A.反符合技術(shù)可以用于甄別康普頓事件
B.反散射峰與特征X射線峰來自于環(huán)境
C.全能峰就是光電峰
D.單逃逸峰的能量大于雙逃逸峰
A.符合測量對(duì)真偶符合比沒有要求
B.為保證高的真偶符合比,電子學(xué)分辨時(shí)間小一些好
C.真偶符合比必定是大于1的
D.其他條件不變,源的活度越大則真偶符合比越大
A.偶然符合在低計(jì)數(shù)率情況下更常見
B.偶然符合的事件同時(shí)發(fā)生且相關(guān)
C.偶然的情況下同時(shí)到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合
D.不相關(guān)的事件都可以認(rèn)為屬于偶然符合
A.符合曲線是指延遲關(guān)系變化時(shí),符合計(jì)數(shù)率的變化曲線
B.信號(hào)的時(shí)間離散對(duì)符合曲線有影響
C.理想的電子學(xué)瞬時(shí)符合曲線是矩形的
D.符合分快符合與慢符合,快符合的符合曲線寬度主要由電子學(xué)分辨時(shí)間決定
最新試題
小立體角法是測量α源活度的手段之一,關(guān)于此方法的描述錯(cuò)誤的是()。
下列關(guān)于真符合的描述錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于延遲符合,下列描述錯(cuò)誤的是()。
下列對(duì)中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是()。
測量β射線的活度,下列說法錯(cuò)誤的是()。
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于加速器中子源,描述錯(cuò)誤的是()。
下列對(duì)γ能譜的描述,錯(cuò)誤的是()。
下列對(duì)探測器本征探測效率沒有影響的是()。
幾何因素對(duì)探測器測量活度的影響描述正確的是()。