電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。