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干涉顯微鏡測(cè)量表面粗糙度值的范圍一般為R
a
0.032~0.8μm。
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光切顯微鏡可以直接測(cè)量出工件表面粗糙度值。
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測(cè)量表面粗糙度的方法是用測(cè)針對(duì)工件表面直接進(jìn)行接觸式測(cè)量。
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