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超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
A.地層電阻率
B.井內(nèi)泥漿
C.地層放射性
D.地層的礦化度
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單項(xiàng)選擇題
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
A.小
B.大
C.比較一致
D.變化不明顯
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單項(xiàng)選擇題
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
A.四個(gè)
B.七個(gè)
C.五個(gè)
D.六個(gè)
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