判斷題超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關(guān)系,頻率越高,晶片越厚。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題