X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

根據衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

紅外光分為（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。