當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

影響較大的散射線通常來(lái)自（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）