底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）