單項選擇題垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。
A.小于
B.等于
C.小于或等于
D.大于
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。
A.缺陷檢出的靈敏度發(fā)生變化
B.反射或穿透波不能被另一個探頭接收
C.穿透波不能被另一個探頭接收
D.反射波不能被另一個探頭接收
2.單項選擇題探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進行布局和掃查。
A.試件的尺寸
B.缺陷存在的規(guī)律
C.探頭的型號
D.儀器的性能
3.單項選擇題探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
4.單項選擇題在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復(fù)頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）
A.干擾波
B.幻象波
C.干擾波和幻象波
5.單項選擇題采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
A.10-20度
B.30-60度
C.30-90度
D.60-90度
最新試題
在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。
題型：多項選擇題
探頭移動過程中同時作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。
題型：單項選擇題
剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。
題型：單項選擇題
為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應(yīng)對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。
題型：多項選擇題
焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。
題型：多項選擇題
探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。
題型：多項選擇題
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。
題型：單項選擇題
通用儀器對焊補層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。
題型：單項選擇題
垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。
題型：單項選擇題
探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。
題型：多項選擇題