單項(xiàng)選擇題

在進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量非導(dǎo)體的零件表面形貌時(shí),常采用的測(cè)量?jī)x器為()

A.光學(xué)顯微鏡
B.掃描隧道顯微鏡
C.原子力顯微鏡

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