A.產(chǎn)生遲到波
B.產(chǎn)生幻象波
C.改變儀器水平線性
D.改變儀器垂直線性
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A.垂直線性
B.動(dòng)態(tài)范
C.靈敏度
D.以上選項(xiàng)都對(duì)
A.發(fā)射強(qiáng)度高
B.檢測(cè)速度快
C.可編程性
D.穩(wěn)定性好
A.衰減器調(diào)節(jié)
B.抑制調(diào)節(jié)
C.增益調(diào)節(jié)
D.以上選項(xiàng)都是
A.衰減器旋鈕
B.增益旋鈕
C.深度調(diào)節(jié)旋鈕
D.水平調(diào)節(jié)旋鈕
A.缺陷深度定位
B.缺陷定量
C.缺陷定性
D.以上選項(xiàng)都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
儀器水平線性影響（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。