單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）

以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）

從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）

軟件評(píng)審的技術(shù)不包括（）

下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）

白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。

軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）

模擬負(fù)載測(cè)試需要通過一些參數(shù)的設(shè)定來實(shí)現(xiàn)，常見參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。