已知采樣系統(tǒng)如圖所示,其中T=1,K=1。
寫出描述系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型的差分方程。
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閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開環(huán)極點(diǎn)的積。()
用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置:然后通過設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置;最后,計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。
滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠(yuǎn),滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就()。然而,距越遠(yuǎn),容易造成“()”現(xiàn)象。
二次振蕩環(huán)節(jié)中包含()個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。
采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率()。(選填增大或減?。?/p>
關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡(jiǎn),說法錯(cuò)誤的是()
相位超前-滯后校正網(wǎng)絡(luò)在()頻段是一個(gè)滯后校正環(huán)節(jié)。
用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正,是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì),所以,在校正裝置設(shè)計(jì)之后,需要進(jìn)行(),看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性,設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出()。
采用串聯(lián)滯后校正時(shí),通常可使校正后系統(tǒng)的增益剪切頻率ωc()。
在負(fù)反饋系統(tǒng)中,若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個(gè)位于s左半平面的極點(diǎn),則其根軌跡()。