單項(xiàng)選擇題

集成測(cè)試時(shí)，能較早發(fā)現(xiàn)高層模塊接口錯(cuò)誤的測(cè)試方法為（）。

A.自頂向下漸增式測(cè)試
B.自底向上漸增式測(cè)試
C.非漸增式測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試

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單項(xiàng)選擇題

不屬于白盒測(cè)試的技術(shù)是（）。

A.路徑覆蓋
B.判定覆蓋
C.循環(huán)覆蓋
D.邊界值分析

單項(xiàng)選擇題

軟件測(cè)試過程中的集成測(cè)試主要是為了發(fā)現(xiàn)（）階段的錯(cuò)誤。

A.需求分析
B.概要分析
C.詳細(xì)設(shè)計(jì)
D.編碼