在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數范圍的元素。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。