單項(xiàng)選擇題ICP-AES法的檢出限測(cè)量值等于背景濃度或空白測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差（）時(shí)所對(duì)應(yīng)的分析物濃度。
A.1
B.2
C.3
D.4
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題ICP-AES的分析校準(zhǔn)曲線一般有較大的線形范圍，可達(dá)（）數(shù)量級(jí)。
A.1~4
B.4~6
C.4~10
D.10~15
2.單項(xiàng)選擇題ICP測(cè)量除塵灰中鉻和鎳時(shí)，試樣至于瓷坩堝內(nèi)并加上一定量的過氧化鈉于用馬弗爐內(nèi)熔融，熔融的溫度是（）
A.500℃
B.700℃
C.1000℃
D.800℃
3.單項(xiàng)選擇題ICP測(cè)量三氧化二鋁中雜質(zhì)元素時(shí)，用馬弗爐的溫度是（）
A.600℃
B.700℃
C.1000℃
D.800℃
4.單項(xiàng)選擇題ICP測(cè)量三氧化二鋁中殘余成分硅、鈣、磷時(shí)，用（）化學(xué)試劑進(jìn)行前處理。
A.王水
B.六硼酸鋰
C.過氧化鈉
D.碳酸氫鈉
5.單項(xiàng)選擇題ICP測(cè)量鋁錠和鋁粉中的鋁時(shí)用（）酸溶樣。
A.濃鹽酸
B.稀鹽酸
C.濃硝酸
D.稀硝酸
最新試題
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。
題型：判斷題
碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。
題型：判斷題
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
題型：判斷題
直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。
題型：判斷題
原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。
題型：判斷題
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
題型：判斷題
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。
題型：判斷題
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
題型：判斷題
原子吸收法測(cè)量鉀鈉，應(yīng)使用聚四氟乙烯材料的塑料瓶，避免玻璃介質(zhì)對(duì)測(cè)定鉀鈉的干擾。
題型：判斷題
鋼鐵中碳分析，如果采用常規(guī)化學(xué)方法，需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
題型：判斷題