問答題
制造半導體元件時,常常需要測定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度.可以將二氧化硅薄膜的一部分腐蝕掉,露出一個傾斜的劈尖膜.用波長為589.3nm的鈉光垂直照射,觀察到如圖所示的條紋.已知硅的折射率為3.42,二氧化硅的折射率n=1.52,計算此氧化層的厚度d.
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愛因斯坦的主要科學成就包括如下哪幾個方面?()
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沖量反映的是力在時間上的積累效果,沖量方向與動量方向一致。
題型:判斷題
最簡單的振動為(),描述一按余弦規(guī)律變化的運動。
題型:單項選擇題