填空題在使用OTDR對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂點(diǎn)都會(huì)引起損耗和較大的反射,稱之為()事件。

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