A.入射到曲界面上時(shí),反射波將發(fā)生聚焦
B.反射波聚焦或發(fā)散與曲面的凸凹(從入射方向看)有關(guān)
C.凹曲面的反射波發(fā)散
D.凸曲面的反射聚焦
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A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.45o
B.60o
C.70o
D.75o
A.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于60o時(shí)縱波聲壓反射率高
B.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于45o時(shí)縱波聲壓反射率高
C.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于30o時(shí)橫波聲壓反射率高
D.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于35o時(shí)橫波聲壓反射率高
A.大于
B.小于
C.等于
D.無(wú)法確定
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()是影響缺陷定量的因素。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。