A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
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A.可以直接在帶棱邊的工件上調整時基線
B.工件表面的外來物對聲波衰減有明顯作用
C.通過手指觸摸可以容易地找到反射點
D.以上都是
A.檢測技術的選擇是否正確
B.檢測過程的操作是否正確
C.缺陷評定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時基線調整要準確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準進行測量
B.為了準確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進行校準
C.測量時,需要了解被測件的聲速
D.以上都是
最新試題
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()是影響缺陷定量的因素。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現一系列的波,這種波是()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。