問(wèn)答題指出下列敘述中的錯(cuò)誤，并予以改正：“對(duì)材料AmBn的研究方法是：用X射線衍射儀器對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定；用掃描電鏡對(duì)材料進(jìn)行物相分析，確定其晶體學(xué)參數(shù)；用透射電鏡對(duì)材料界面、結(jié)合組態(tài)進(jìn)行測(cè)試分析”。
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最新試題
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型：判斷題
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型：判斷題
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。
題型：多項(xiàng)選擇題
拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。
題型：判斷題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題