ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

氧氮分析儀器長期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鐵合金中碳硫含量，批量分析時(shí)應(yīng)每測定一定數(shù)量樣品，插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢查儀器的線性是否漂移。

直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對分析結(jié)果有影響。

X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時(shí)和以后查找。

原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對空白樣品連續(xù)測定7次。