A.底面回波高度法適用于上、下面與入射聲束垂直的工件
B.底面回波高度法適用于缺陷反射面大于入射聲束截面的工件
C.底面回波高度降低量與缺陷的大小有關(guān)，缺陷越大，底波降低量越大；缺陷越小，底波降低量也越小
D.底面回波高度法不能明確地給出缺陷的尺寸
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.體積型缺陷
B.平面型缺陷
C.點(diǎn)狀缺陷
D.密集型缺陷
A.試塊棱角
B.長(zhǎng)橫孔
C.平底孔
D.大平底
A.歸一化距離
B.歸一化當(dāng)量大小
C.增益
D.波幅
A.B 型試塊
B.CBⅡ試塊
C.CSⅡ試塊
D.CSK-ⅡA試塊
A.試塊應(yīng)在適當(dāng)?shù)牟课痪幪?hào)
B.使用過(guò)程中注意反射體內(nèi)的油污和銹蝕
C.注意防止試塊變形
D.平板試塊盡可能平放
最新試題
因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減， 所以檢測(cè)必須在未擴(kuò)散區(qū)檢測(cè)。
穩(wěn)壓器的吊耳屬于：（）。
無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
當(dāng)被檢測(cè)材料的材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，會(huì)引起草狀回波，使信噪比提高。
下列關(guān)于退磁因子的敘述，正確的是（）。
下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)，哪種不是陰影測(cè)量法：（）。
焊縫磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕特征為：磁粉沉積為點(diǎn)狀（橢圓狀）或粗短線條狀，磁粉堆積不緊密，較平直；條狀兩端不尖細(xì)，但有一定面積。這可能是：（）。
標(biāo)準(zhǔn)QJ2859-1996《工業(yè)內(nèi)窺鏡操作使用方法與判定規(guī)則》中規(guī)定，進(jìn)行內(nèi)窺鏡檢測(cè)的產(chǎn)品溫度應(yīng)在：（）。
按照ASME 規(guī)范要求可以用來(lái)作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是：（）。
檢測(cè)與工件軸線方向平行的缺陷時(shí)，不可使用的磁化方法是：（）。