判斷題2.5P10×12K2斜探頭,其晶片發(fā)射的聲波是橫波。
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測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
題型:單項選擇題
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
題型:單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項選擇題