樣品質(zhì)量偏大可能會造成失重曲線向高溫方向偏移。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長期置于低溫狀態(tài)。

對于劇烈放熱效應(yīng)的特殊樣品，例如爆炸物等，應(yīng)加大熱分析設(shè)備的加熱速率。

對于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時，厚度改變，會產(chǎn)生等厚條紋襯度。

TMA測試材料的尺寸變化，因此只能利用它表征材料尺寸。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。

DMA測試常見的兩種掃描測試方式為（）。

下列（）不屬于透射電子顯微鏡的特點(diǎn)。

受力流動成型和自由流動成型方式均是在物料流動狀態(tài)下進(jìn)行，區(qū)別在于有無外力作用。

光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列（）來擔(dān)當(dāng)，其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。