A.盡可能靠向凸耳兩側(cè)
B.聲束軸線與凸耳軸線垂直
C.聲束軸線向凸耳兩側(cè)傾斜一定角度
D.以上都是
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A.裂紋
B.鍍層
C.分層
D.腐蝕
A.缺陷的性質(zhì)
B.缺陷的形狀
C.缺陷的尺寸
D.缺陷的位置
A.壁厚與外徑之比小于0.20
B.壁厚與外徑之比大于0.20
C.壁厚與內(nèi)徑之比小于0.20
D.壁厚與內(nèi)徑之比大于0.20
A.打磨修理后的厚度測量
B.回波相位分析材料性質(zhì)
C.復(fù)合材料脫層和積水
D.以上都是
A.凸耳內(nèi)壁面的回波
B.表面過多耦合劑產(chǎn)生的假顯示
C.楔塊內(nèi)的反射回波
D.都有可能
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯誤的。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。