金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數一般為（）倍。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎上增加（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應的（）對探傷有利。

探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應小于探頭的有效直徑，應有探頭寬度（）的重疊。

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復頻率過高，儀器可能會產生（）

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷工藝規(guī)程編制應對受檢工件的（）做好記錄。

由于各種試件的結構、質量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

為了提高探傷結果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調查。

探傷中遇鋼軌焊補時，執(zhí)機人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應提高（）。