問答題

探頭探測與波束軸線垂直的缺陷最易發(fā)現(xiàn)（）


此題為判斷題(對，錯(cuò))。
答案： 在無損檢測中，使用探頭探測材料內(nèi)部的缺陷時(shí)，探頭發(fā)射的超聲波束與缺陷的相對位置會(huì)影響缺陷的檢出能力。當(dāng)探頭探測到的波束軸...
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