材料研究方法章節(jié)練習(xí)(2020.01.06)
來(lái)源:考試資料網(wǎng)1.問(wèn)答題X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要有哪些方法?它們各有哪些應(yīng)用?
參考答案:X.射線衍射方法:粉末法、勞厄法、轉(zhuǎn)晶法三種。
粉末法在晶體學(xué)研究中應(yīng)用最廣泛,試驗(yàn)方法及試樣制備簡(jiǎn)單,所以在科...
粉末法在晶體學(xué)研究中應(yīng)用最廣泛,試驗(yàn)方法及試樣制備簡(jiǎn)單,所以在科...
2.問(wèn)答題電子探針X射線顯微分析儀有哪些工作模式,能譜儀的特點(diǎn)是什么?
參考答案:工作模式:點(diǎn)線面三種。
能譜儀的特點(diǎn):
1.所用的Si探測(cè)器尺寸小,可裝在靠近樣品的區(qū)域;
能譜儀的特點(diǎn):
1.所用的Si探測(cè)器尺寸小,可裝在靠近樣品的區(qū)域;
6.問(wèn)答題闡述光學(xué)顯微分析用光片制備方法。
參考答案:1.取樣:取樣部位應(yīng)有代表性,應(yīng)包含所要研究的對(duì)象并滿足研究的特定要求;
2.鑲嵌:對(duì)形狀特殊或尺寸細(xì)小而不易...
2.鑲嵌:對(duì)形狀特殊或尺寸細(xì)小而不易...
7.問(wèn)答題電子探針對(duì)材料的成分分析與EDXRF成分分析有何異同?
參考答案:(1)異:EDXRF檢測(cè)的是由X射線激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線,EPMA檢測(cè)的是由電子束激發(fā)產(chǎn)生的特征X射線。
(2...
(2...
參考答案:不論哪一種研究方法都有其相應(yīng)的應(yīng)用領(lǐng)域,即在應(yīng)用上有一定的局限性。而作為材料基本研究?jī)?nèi)容的材料結(jié)構(gòu)與性能往往隨時(shí)間與外界...
參考答案:(1)X射線衍射定性分析是將試樣的衍射譜與標(biāo)準(zhǔn)衍射譜進(jìn)行比較鑒別,確定某種物相的存在以及確定該物相的結(jié)晶狀態(tài)。其過(guò)程為:...
10.問(wèn)答題簡(jiǎn)述熱分析技術(shù)在材料研究中的應(yīng)用。
參考答案:1.差熱分析(DTA)曲線或差示掃描量熱分析(DSC)曲線可以用來(lái)定性地表征和鑒定物質(zhì),可以定量地估計(jì)參與反應(yīng)的物質(zhì)的量...