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現(xiàn)代材料分析方法填空題每日一練(2020.04.28)

來源：考試資料網(wǎng)

1.填空題紅外光譜圖的橫坐標(biāo)是波長、縱坐標(biāo)是（）

參考答案：透過率

2.填空題XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分別代表X射線衍射分析、（）、（）、電子探針分析和差熱分析分析方法。

參考答案：掃描電子顯微分析；透射電子顯微分析

3.填空題表面分析方法有俄歇電子能譜、紫外電子能譜、光電子能譜和（）四種方法。

參考答案：離子探針顯微分析

4.填空題電磁透鏡的像差有球差、色差、軸上像散和（）

參考答案：畸變

5.填空題電子探針包括（）和能譜儀成分分析儀器。

參考答案：波譜儀