現(xiàn)代材料分析方法章節(jié)練習(xí)(2020.05.15)

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1.問(wèn)答題簡(jiǎn)述原子散射因子隨衍射角的變化規(guī)律

2 構(gòu)成晶體的質(zhì)點(diǎn)包括（）

3 X射線光譜分析的信號(hào)是（）

4 方程2dSinθ=λ叫（）

5 掃描電鏡的分辨率是指（）

6.填空題表面分析方法有俄歇電子能譜、紫外電子能譜、光電子能譜和（）四種方法。

參考答案：離子探針顯微分析

7.問(wèn)答題闡述多晶體X射線衍射強(qiáng)度影響因素及其應(yīng)用

8.判斷題純鐵在低于1000度時(shí)，呈現(xiàn)α相。

9.判斷題透射電鏡圖像的襯度與樣品成分無(wú)關(guān)。

10.問(wèn)答題寫(xiě)出簡(jiǎn)單P點(diǎn)陣，體心I點(diǎn)陣，面心F點(diǎn)陣的系統(tǒng)消光規(guī)律以及他們第一條衍射線的干涉指數(shù)。