A.使第二次界面波落在零件一次底波之后
B.使聲波在水中的衰減盡可能的小
C.使上表面的盲區(qū)盡可能的小
D.以上都是
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A.在零件中形成橢圓型聲場
B.在時(shí)基線上不會(huì)出現(xiàn)底面回波
C.在上下表面可能會(huì)產(chǎn)生反射位移
D.以上都是
A.必須確認(rèn)探頭折射角度和入射點(diǎn)
B.零件越薄時(shí),使用的橫波角度也相應(yīng)越大
C.有三種時(shí)間基線的調(diào)整方法
D.以上都是
A.相同頻率下,橫波比縱波的分辨力低
B.相同頻率下,橫波比縱波的穿透力低
C.與縱波一樣,橫波聲場近場區(qū)也存在干擾
D.與縱波一樣,側(cè)壁對(duì)橫波反射也會(huì)產(chǎn)生影響
A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比,橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
最新試題
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
儀器水平線性影響()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。