A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
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A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
A.波幅將增加或降低為原波高的1倍;
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍;
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍;
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
儀器水平線性影響()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。