A.波幅將增加或降低為原波高的1倍;
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍;
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍;
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
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你可能感興趣的試題
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線(xiàn)性、分辨力、信噪比
C.垂直線(xiàn)性、水平線(xiàn)性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線(xiàn)性、分辨力、信噪比
C.垂直線(xiàn)性、水平線(xiàn)性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線(xiàn)性、分辨力、信噪比
C.垂直線(xiàn)性、水平線(xiàn)性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對(duì)靈敏度、時(shí)間域響應(yīng)、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴(kuò)展特征、距離幅度特征
C.頻率響應(yīng)、分辨力、入射點(diǎn)或折射角
D.以上都是
A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時(shí)間
C.缺陷的指示長(zhǎng)度
D.以上都是
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。