A.橫向缺陷的檢測采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應吻合良好
C.掃差靈敏度在基準靈敏度的基礎上提高9dB
D.在檢測縱向缺陷時,探頭沿螺旋線進行掃查
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A.折射角采用棱角反射法測定
B.入射點測定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測定入射角
D.利用曲面對比試塊測定入射點和折射角
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網絡標記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準
A.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質相同的ϕ5mm平底孔試塊調節(jié)靈敏度
B.當底面第一次反射波波高低于顯示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據產品技術要求或有關標準來確定。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
儀器水平線性影響()。