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A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網絡標記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準

A.兩介質聲特性阻抗接近，界面回波小，容易檢出
B.兩介質聲特性阻抗接近，界面回波大，不易檢出
C.兩介質聲特性阻抗差別大，界面回波大，不易檢出查
D.兩介質聲特性阻抗差別大，界面回波小，容易檢查

A.采用與被檢工件材質相同的ϕ5mm平底孔試塊調節(jié)靈敏度
B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理

A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭

A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小，缺陷檢出率提高
D.夾雜類缺陷可能會因產生透射聲波而無法檢測到

A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響，對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大

A.未焊透
B.未融合
C.無缺陷
D.探頭雜波

A.橫波端角反射法適于測量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測量缺陷下端點時存在死區(qū)
C.用端點衍射法可以方便地精確測定缺陷自身高度
D.6dB法測量精度高，但操作困難

A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點距表面距離小于5mm的缺陷，測量誤差小
D.采用點聚焦探頭可以提高測試精度

A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.因反射信號很小而導致漏檢