A.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
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A.采用與被檢工件材質相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小,缺陷檢出率提高
D.夾雜類缺陷可能會因產(chǎn)生透射聲波而無法檢測到
A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響,對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大
A.未焊透
B.未融合
C.無缺陷
D.探頭雜波
最新試題
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。