A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
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A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小，缺陷檢出率提高
D.夾雜類缺陷可能會因產(chǎn)生透射聲波而無法檢測到
A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響，對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大
A.未焊透
B.未融合
C.無缺陷
D.探頭雜波
A.橫波端角反射法適于測量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測量缺陷下端點時存在死區(qū)
C.用端點衍射法可以方便地精確測定缺陷自身高度
D.6dB法測量精度高，但操作困難
A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點距表面距離小于5mm的缺陷，測量誤差小
D.采用點聚焦探頭可以提高測試精度
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。