A.超聲波檢測
B.滲透檢測
C.目視檢測
D.磁粉檢測
E.渦流檢測
F.射線檢測
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A.實用AVG曲線
B.DGS曲線
C.距離波幅曲線
D.以上都是
A.零點的左邊
B.零點的右邊
C.零點
A.連續(xù)波顯示
B.A掃描顯示
C.B掃面顯示
D.C掃描顯示
A.放大器線性,分辨力,示波管平面尺寸
B.放大器線性,分辨力,阻塞時間
C.放大器線性,水平線性,分辨力
D.發(fā)射功率,耗電功率,外形尺寸與重量
A.脈沖寬度
B.脈沖振幅
C.脈沖形狀
D.上述三種都不對
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。