A.調(diào)整補(bǔ)償
B.傳輸損失補(bǔ)償
C.聲程補(bǔ)償
D.以上都不是
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A.3dB
B.6dB
C.9dB
D.12dB
A.3.0~2.0
B.2.5~1.5
C.2.0~1.0
D.以上都不是
A.Ø1x6-9dB
B.Ø1x6-6dB
C.Ø3-4dB
D.Ø1x6+10dB
A.Ø1x6mm
B.Ø2x40mm
C.Ø3mm
D.以上都不是
A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。