A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
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A.>10mm
B.≥100mm
C.>400mm
D.>600mm
A.H大于鋼管中橫波全聲程的
B.H等與鋼管中橫波全聲程的
C.H小于鋼管中橫波全聲程的
D.以上都不對(duì)
A.用比較堅(jiān)硬的探頭
B.用較粘稠的耦合劑
C.用較厚的晶片
D.用軟保護(hù)膜探頭
A.A試塊的大
B.B試塊的大
C.一樣大
D.無(wú)法比較
A.φ20.5.0MHz
B.φ30.5.0MHz
C.φ16.1MHz
D.φ30.2.5MHz
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。